XAU-4CS光谱分析仪

仪器简介：

XAU-4CS是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。

应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪jiance微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHSjiance及成分分析。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：

微小样品jiance：zui小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小zhi0.01mm²）

变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm

自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚zhi有同种元素在不同层也jingque测量

先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，jiangdi检出限

高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器

光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置

多准直器自动切换

应用领域：

广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、贵金属jiance、精密电子、电镀行业等多种领域。

多元迭代EFP核心算法（专利号：2017SR567637）

zhuanye的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增qiangxiao应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及yuoji物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，diyi层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

有害元素jiance：RoHSjiance，可满足铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr VI）等有害元素的成分jiance及含量分析

技术参数：

1. 成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）

2. 成分zui低检出限：1ppm

3. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）

4. 涂镀层zui低检出限：0.005μm

5. zui小测量直径□0.1*0.3mm（zui小测量面积0.03mm²）

    标配：zui小测量直径0.3mm（zui小测量面积0.07mm²）

6. 对焦距离：0-30mm

7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量：45KG

10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm

11. XY轴工作台zui大承重：5KG

选择一六仪器的四大理由：

1.一机多用，无损jiance（涂镀层jiance-环保RoHS-成分分析）

2.zui小测量面积0.002mm²

3.可jiance凹槽0-30mm的异形件

4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可jiance